• {{item.name}}
ET200 {{item.name}}
{{item2.name}}
更多
常问问题

故障安全型 ET200S 模块的测试脉冲会有什么影响 ?

star star star star star
5.0 分
  • 参数设置
  • ET 200S
文档编号:44452714| 文档类型:常问问题| 发布时间:2023年12月19日
  • 0
  • 243
  • 598
此常问问题介绍故障安全型 ET200S 模块的测试脉冲,有助于评估那些根据需要使用了和能更好的参数化此功能的模块的行为。

描述
为了及时地检测短路,接地等故障,故障安全数字模块会有规律地执行位模式测试。
为实现位模式测试,在 F-DOs 模块(或 F-DIs 模块上的传感器电源)输出短测试脉冲。

下面的文档有助于评估那些根据需要使用了和能更好的参数化此功能的模块的行为。

bit_pattern_test_en.pdf ( 1446 KB )

搜索条目
dark test, light test, dark period, light period, read-back time,


您可以前往全球资源库查看此文档:

http://support.automation.siemens.com/CN/view/zh/44452714

剩余80%未阅读,请登录后下载/查看文档

  • 评论
更多
  • 分享

    扫码分享

提示
您即将前往“全球技术资源库”。
“全球技术资源库”的用户名与本地支持中心(下载中心、技术论坛、找答案、1847工业学习平台)的用户名不通用。如果需要在全球技术资源库下载文档,您需要重新登录或注册。
确定

扫码进入移动端

信息提示
很抱歉!您所访问的页面不存在,或网址发生了变化,请稍后再试。