目前的做法：
1.数字量转换为工程量。
这一步是前提。列位看官想想有没有其它方法。
假设各个通道地址是连续的，就可以使用指针循环调用功能块的方法（或者按条件分组计算，比如分成4组：T1－T25、T26－T50、……顺序计算，这样要4个扫描周期采集一次完整数据，以期减少扫描时间），得到地址连续的100个温度值T1－T100（故障T＝0），以及100个标志位（故障＝1），依次存放在M100.0、1、2.……中。

2.计算通用公式：Tave=(T1+T2+...+T100)/（100-故障个数N）
问题就转换为求MD100、MD104、MD108中1的个数。

求二进制数据中1的个数……有没有很耳熟？
给大家推荐一个当年惊为天人的算法：
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MD100＝MD100 & (MD100-1)
N=N+1
*****
直到MD100变为0，以此求出MD100中1的个数，而且循环次数＝1的个数，大大大大减少了计算量（相较于最常见的逐位比较法）。
其它算法可参考：http://www.cnblogs.com/graphics/archive/2010/06/21/1752421.html 诸位感受一下。

至此，计算完毕。

列位还有没有其它简便的方法？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？？