S7 300系统U型连接器电压异常是否会造成I/O模块烧毁

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S7 300系统U型连接器电压异常是否会造成I/O模块烧毁

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2014-04-29 15:30:07

项目采用S7 313CCPU模块,外接一块8通道AI模块,AI模块连续烧毁2个(能够看到冒烟),CPU本体上自带的两个IO模块正常,CPU也工作正常,测前连接器24V电压正常,测U型连接器上每个阵脚对最下端阵脚电压:1、2.62V,2、2.62V,3、2.6V,4、-2.5V,5、2.61V,6、2.32V,7、2.6V,8、2.61V,9、2.61V,10、-2.52V,11、2.59V,12、-2.52V,13、-12.4MV;对比S7 315DP CPU模块,外接一块工作正常的8通道AI模块,测U型连接器上每个阵脚对最下端阵脚电压:1、2.03V,2、2.04V,3、2.03V,4、-3.11V,5、1.56V,6、2V,7、1.68V,8、2.04V,9、1.49V,10、-3.11V,11、1.57V,12、-3.11V,13、-1.15V;两组电压对比出现烧毁的一组U型连接器电压异常,这是否是造成AI模块烧毁原因?U型连接器电压是否与CPU型号有关?
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