回复:大容量可控硅的测量问题

hahaer

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发布于 2019-01-29 01:12:54

3楼

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以下是引用老兵在2019-01-28 19:27:21的发言 >

如果想准确测试可控硅的好坏,需要专门的仪器,比如晶闸管测试仪。


但生产现场通常没有这样的仪器,不过,怎么也得有块万用表。这种情况下,只能做简单测试,比如,测一下门极及阴极间的电阻(通常在10欧以上,50欧以下。这个要看可控硅的出厂测试单。通常一个厂生产的同一个批次的这个参数相差不大,在几欧之内;如果小于10欧,或者开路,就危险了);测试一下阳\阴极之间的电阻,看是否短路;这个参数,用万用表测,应该是开路状态。


或者自己动手做一个简单的触发及导通电路,判断导通与关断是否可靠。

但是通常加不上高电压,没办法测试在高压状态下是否能可靠关断及导通。


    最近修复了一台同步机的励磁部分,可控硅参数是1600V 800A,其他的看不清楚了。直流电压正常,但是励磁电流为正常值的三分之一,机组负载加不上去。上述我办法采用了,测量都是35M欧效果不明显,最后我采用版主说的使用自制电路测量,首先测量运行时三相电流分别是,100A,150A,200A。设备额定电流300A,直流电压正常,但是励磁电流为正常值的三分之一,机组负载加不上去。根据电流判断A相可控硅导流能力下降,自制电流时使用3节1号电池串联,正极接门极,负极接阴极,使用万用表测量阳极和阴极之间的导通状况,测得A相门极加电时和不加电时 相同为35M欧。B相门极加电时为16K欧,不加电时 为35M欧。C相门极加电时为10K欧和不加电时为35M欧。这时判断A相可控硅损坏,更换后设备运行正常。

   我想对于大型电力可控硅,常规的测试办法可以使用,但是对于状态较差的可控硅,就不是那么好测量的了,由于备件少只有两个所以我只能检测坏掉的那个更换,其实稳妥的办法是整组的更换。

哈哈每天都要快乐起来!!!!!!!!!

精华帖版主置评:手脑并用,因地制宜,解决问题。by老兵

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