线性度和精度还是有区别的，事实上传感器的线性度是真的一条直线吗，否，是我们为了计算方便，在允许的误差范围内，给出的一条近似线性曲线，那么对于低精度的传感器或许只要一条或2条线性曲线就可以了，而对于高精度的传感器或许需要多条线性曲线或干脆查表来解决。这里要说明的是，传感器的精度是由传感器的原理及制造工艺决定的（比如测温，就有热电阻，热电偶，半导体，红外及金属形变如水银），当然制造过程的差异也会导致传感器精度的差别，但现代制造工艺已经可以使这个差别很小了，也就是传感器的重复性在工艺上是可以保证的。但我们国家是个例外，材料成分不过关，偷工减料现象严重，导致理论线性度与实际线性度不符，以及误差范围的扩大。
需要提到的是，传感器工作原理的变化及制造工艺的变化也会导致其线性曲线的变化（不包括材料因素），不同厂家的产品也会有线性曲线上的差异，因此制造商应该根据产品的批次给出相应的曲线。

回过来，我们讨论楼主的方法是否可行？
1.理论上，系统的综合精度受制于其组成元器件的最低精度，理论上是小于等于的；
2.理论上，虽然提升了线性度，但测量误差的一部分是元器件的固有特性，如PT100 B级 精度为（0.30+0.005*t）摄氏度,是无法改变的，在固有误差里做文章有用吗。所以，现在的检测系统的综合精度均参考传感器的精度，如PT100,传感器精度±0.5℃，系统综合精度±1℃就不错了，要想提高系统精度，就用PT1000。
3.实践上的可行性，极差，在一堆PT100里要挑出一个PT1000来用，可能吗？任何一个元器件的更换，导致每一个测量回路都需要单独重新的校准，那岂不是每做一个项目就背上一个包袱吗？用户连一个小小的传感器都要受制于你，有谁愿意。
4.楼主主要使用S7-200系统，S7-200的模拟量AD是逐次逼近型的，这种模拟量转换的精度要远低于S7-300的同样转换位数的AD,以此这样的平台作出精度等级反超的系统来，可能吗？
5.结果是什么，忽悠不懂技术的用户，进而控制用户，最后谋取暴利